【技術文章】探索雙脈衝測試的新型偏移校正技術

發布時間：2024-01-17 10:39:28 人氣：237

針對校準較高功率、低端汲極至源極電壓 (V_DS) 和汲極電流 (I_D) 量測，傳統的偏移校正技術需要針對測試設定重新佈線。

在過程中必須拆除負載電感器並使用電阻器替換，然後再進行量測並校準 V_DS 和 I_D 量測值。

此過程可能需要一個小時以上的時間。

在本技術文章中，我們將探索一種新的偏移校正技術，該技術準確且速度顯著加快，

將測試時間縮短至幾分鐘。立即深入瞭解！

深入瞭解

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