【應用指南下載】元件與半導體裝置的 C-V 測試
02-10
電容-電壓 (C-V) 測試是一種多功能且廣泛使用的半導體參數分析方法。此方法能測定關鍵特性，例如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。 本 C-V 測試應用指南彙整了完整的應用說明，概述了使用 4200A-SCS 參數分析儀進行 C-V 量測的高階方法與技術。立即下載，探索半導體特性分析的有效解決方案。立即下載
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我們製作了一份實用的參考指南，帶領您瞭解所有必備知識，包括 DPT (雙脈衝測試) 的定義、用途，以及如何正確設定以獲得準確且具可重複性的結果。 內容包含：詳細的測試設定指南，展示建議的設備與探棒關鍵量測指標，如開通與關斷能量損耗 (Eon 和 Eoff) (Eon 與 Eoff) 以及逆向回復適用標準摘要專家提示，有助您避開常見誤
隨著產業不斷突破速度、頻寬與可靠性的界限，高速 I/O（HSIO）技術已成為高效能運算（HPC）、先進運算系統以及消費性裝置創新的基礎。本次課程將介紹 Tektronix 的 HSIO 解決方案組合，並強調如何協助工程師克服訊號完整性挑戰、簡化認證流程，加速產品上市。 從 PCIe、USB、DDR、MIPI、HDMI、Ethernet 等標準，Tektronix
隨著世界向永續電動出行邁進，鋰離子電池的高效回收和二次利用概念比以往任何時候都更加重要。我們需要創新、精準和高效率，才能因應這項嚴苛的挑戰。 身為 Tektronix 科技旗下公司，EA Elektro-Automatik 提供了先進的再生負載和雙向可程式設計的直流電源供應器，協助您簡化和改善電池回收流程。透過我們的尖端解決方案，
eVTOL 正在以永續、安靜、快速的客運方式改變區域空中交通。為了實現這個願景，製造商必須滿足嚴格的法規要求，獲得安全認證，並確保電池和動力系統可靠運作。EA Elektro-Automatik的一站式測試系統為 eVTOL 開發過程提供強力的支持，不論是電池壓力測試以提升續航里程，或是最佳化動力系統效率，確保產品做好上市準備，並實
