專家帶領！必修指南+實戰案例+零距離互動【2026數位量測學習中心即將開課】
03-17
從訊號分析、系統驗證到問題診斷，正確的量測方法與測試流程，往往決定產品開發效率與品質表現。 數位量測學習中心由 Tektronix 專業團隊規劃，我們將在2026年4月份於 台北、新竹 進行一系列課程活動，透過系統化課程設計，帶領工程師深入理解量測原理與測試工具應用，建立完整的量測觀念與測試思維，全面提升量測效率與問題
從訊號分析、系統驗證到問題診斷，正確的量測方法與測試流程，往往決定產品開發效率與品質表現。 數位量測學習中心由 Tektronix 專業團隊規劃，我們將在2026年4月份於 台北、新竹 進行一系列課程活動，透過系統化課程設計，帶領工程師深入理解量測原理與測試工具應用，建立完整的量測觀念與測試思維，全面提升量測效率與問題
如何準確量測並解析高速訊號行為，往往是Debug 與 Validation 的關鍵，而且當多高速介面共存時，訊號互相干擾，導致量測結果被雜訊影響，難以還原真實訊號。 本次活動將以 Tektronix 高效能示波器 全新 7 系列 DPO 進行高速訊號的現場示範，涵蓋 PCIe 4、USB4 及 MIPI D‑PHY / C‑PHY 的實際量測與分析，帶您以真實訊號深
驗證工程師、生產測試工程師和系統整合商經常會開發自動化測試設備 (ATE) 系統，用以測試電晶體、二極體、MOSFET 和 ASIC 等半導體裝置。自動化測試對於識別缺陷、驗證效能及確保品質非常重要，特別是在半導體、航太與國防等對可靠性要求極高的產業中更是如此。Tektronix MP5000 系列模組化精密測試系統提供了一個靈活且具擴
隨著 CPU、GPU、加速器與交換器的創新快速發展，超大規模資料中心的介面如今需要在運算與記憶體之間，以及系統連上網路時，提供更高速的資料傳輸。PCI Express（PCIe®）做為這些互連的主幹，也被用來建構像是 Compute Express Link（CXL™）與 Universal Chiplet Interconnect Express（UCIe™）等協定。 CXL 的資源共享能
電容-電壓 (C-V) 測試是一種多功能且廣泛使用的半導體參數分析方法。此方法能測定關鍵特性，例如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。 本 C-V 測試應用指南彙整了完整的應用說明，概述了使用 4200A-SCS 參數分析儀進行 C-V 量測的高階方法與技術。立即下載，探索半導體特性分析的有效解決方案。立即下載
