10/13 從示波器到半導體量測｜年度最終場
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當測試系統日益複雜，任何不正確的儀器設定、探棒選擇或量測流程，都可能造成判讀誤差、增加除錯時間，甚至影響產品開發進度。建立扎實的量測基礎，正是提升測試效率與研發品質的重要關鍵。數位量測學習中心將於 2026 年 10 至 11 月在台北、新竹推出年度最終系列課程，由 Tektronix 專業團隊帶領，從核心原理到實務操作，協
當測試系統日益複雜，任何不正確的儀器設定、探棒選擇或量測流程，都可能造成判讀誤差、增加除錯時間，甚至影響產品開發進度。建立扎實的量測基礎，正是提升測試效率與研發品質的重要關鍵。數位量測學習中心將於 2026 年 10 至 11 月在台北、新竹推出年度最終系列課程，由 Tektronix 專業團隊帶領，從核心原理到實務操作，協
現代電源分配網路的需求日益提高，使工程師在進行電源完整性特性分析時面臨更多挑戰。適用於指定 Tektronix 示波器的電源分配網路（PDN）分析軟體，可協助設計工程師更深入了解電源軌行為與電壓調節器效能，透過：評估電源分配網路穩定性分析電源軌雜訊串接電源完整性與訊號完整性分析之間的落差體驗全新的自動化量測功能，
隨著模型複雜度提升與分散式工作負載對高輸送量及低延遲的需求日益增加，光學技術已成為 AI 資料中心成長不可或缺的核心。由於電性互連在頻寬與功耗方面已面臨瓶頸，進而推動了高速收發器、矽光子以及共同封裝光學 (CPO) 等新興技術的採用。透過在 GPU 與網路交換器之間實現更快速、更高效的資料傳輸，光學技術不僅能支援 A
通道熱載子（CHC）劣化是現代超大型積體電路（ULSI）中重要的可靠度議題。當載子在 MOSFET 通道中的強電場作用下獲得高動能時，便可能產生此現象。此效應亦稱為熱載子注入（Hot Carrier Injection，HCI），會影響 NMOS 與 PMOS 元件，並隨時間造成臨界電壓（VT）、次臨界斜率（Subthreshold Slope）、導通電流（ID,on）、關
AI 浪潮正加速運算架構、半導體、高速介面與電源技術的快速演進，而每一次技術突破，都始於更精準、更可靠的量測。 深耕測試與量測領域 80 年，Tektronix 持續協助工程師迎接從高速訊號、次世代晶片到高效率電源設計的全新挑戰。結合 Tektronix、Keithley 與EA Elektro-Automatik 的完整技
