【技術指南下載】全力協助推動 eVTOL 技術的未來發展
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eVTOL 正在以永續、安靜、快速的客運方式改變區域空中交通。為了實現這個願景，製造商必須滿足嚴格的法規要求，獲得安全認證，並確保電池和動力系統可靠運作。EA Elektro-Automatik的一站式測試系統為 eVTOL 開發過程提供強力的支持，不論是電池壓力測試以提升續航里程，或是最佳化動力系統效率，確保產品做好上市準備，並實
eVTOL 正在以永續、安靜、快速的客運方式改變區域空中交通。為了實現這個願景，製造商必須滿足嚴格的法規要求，獲得安全認證，並確保電池和動力系統可靠運作。EA Elektro-Automatik的一站式測試系統為 eVTOL 開發過程提供強力的支持，不論是電池壓力測試以提升續航里程，或是最佳化動力系統效率，確保產品做好上市準備，並實
您將了解創新的USB4測試策略如何促進成功的產品開發,隨USB4® 和 USB4 版本 2.0 正在重新定義連接性與電力傳輸的標準。 資料速率可達 80 Gbps，並擴展對 DisplayPort 通道的支援，USB4 在廣泛的電子生態系統中扮演關鍵角色，提供無縫、高頻寬、低延遲的連線。 在這個複雜且快速演進的標準中，確保相容性與互通性需要先進的設
碳化矽 (SiC) MOSFET 通常會表現出滯後效應，這主要是由於陷阱效應，會導致閾值電壓 (Vth) 發生偏移。這種閾值電壓差異會影響某些裝置參數，例如漏電流和導通電阻。為了解決滯後效應，JEDEC (聯合電子裝置工程委員會) 推出了 JEP183A 標準，該標準為 SiC MOSFET 裝置的閾值電壓量測提供了準則。4200A-SCS 參數分析儀與 Clar
MOSFET 是現代電子電路設計中最常見的電晶體裝置之一，主要用於切換和功率放大器應用。MOSFET 在電氣切換電路中具有出色的效能，因為這些裝置具有兩種相反的電氣特性：在關斷狀態下可控制極低的電流，而在導通狀態下則可控制一定量的電流。直流 I-V 特性分析目前仍是廣泛用於 MOSFET 裝置基本特性分析且不可或缺的方法。在最
您將了解從晶片驗證到系統整合，確保快速且可靠的互連，為大規模 AI 效能提供關鍵支援。親愛的客戶您好,隨著 AI 工作負載持續推動資料傳輸與運算需求的爆炸性成長，互連效能已成為下一代系統設計的核心基礎。 PCIe 6.0 具備 64 GT/s 的資料速率並採用 PAM4 訊號技術，代表裝置間通訊架構的重大革新，影響範圍涵蓋 GPU、加速
