11/10 Tektronix 新品發表會，誠摯邀請您參加
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線上新品發表會｜11 月 10 日（星期二）｜上午 10:00（PST）誠摯邀請您參加由 Tektronix 全球總部現場直播的最新創新產品發表會。搶先了解我們的最新技術突破與未來發展方向，第一時間掌握下一代測試與量測解決方案。立即報名，一起搶先看見未來。立即報名
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低電阻量測是監測電阻隨時間變化的可靠方法，可有效發現因熱效應、材料疲勞或腐蝕所導致的性能劣化。當搭配大電流進行量測時，此技術廣泛應用於高功率電阻器、斷路器、開關、匯流排（Bus Bar）、電纜、連接器及其他電阻元件的性能評估。瞭解 Keithley Model 2460 SourceMeter® SMU 如何協助您簡化測試架構、降低程式開發工
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。下載本技術應用文章，深
當 AI 資料中心朝更高頻寬與更高功率密度發展，工程師面對的挑戰，也從系統架構延伸至光源、封裝、電源模組與功率元件：CPO 的光電整合有哪些技術瓶頸？CPO 多通道光源與 EML 短脈衝測試，各有哪些量測挑戰？800 V HVDC 供電架構下，又該如何驗證電源完整性與 SiC／GaN 高速開關特性？太克科技誠摯邀請您參加 11 月 5 日於新
下載最新韌體，讓您的 4 Series B、5 Series B、6 Series B 與 7 Series 示波器發揮更大價值，享有強大的全新功能、更優異的效能，以及重要的安全性更新。探索最新功能增強型游標分析與標註功能最新韌體導入全新的增強型游標(Cursor)系統，功能大幅超越傳統的雙游標量測。您可以建立多組自訂游標、混合使用垂直與水平游標、
