【高功率量測解決方案】簡化 MOSFET C-V 量測

發布時間：2024-10-15 15:16:26 人氣：4

瞭解 MOSFET 的切換時間和能量損耗需要精確量測其內部電容。

然而，設定和操作必要的測試系統通常具有挑戰性且十分複雜。

探索 Keithley 參數曲線追蹤儀 (PCT) 系統如何結合先進的硬體與直覺的軟體，

搭配適用於C_oss, C_iss, 和 C_rss 量測的內建測試，有效簡化此過程。

整合後將會顯著地降低複雜性並確保結果準確、可靠。

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