【應用指南下載】元件與半導體裝置的 C-V 測試
電容-電壓 (C-V) 測試是一種多功能且廣泛使用的半導體參數分析方法。此方法能測定關鍵特性，例如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。 本 C-V 測試應用指南彙整了完整的應用說明，概述了使用 4200A-SCS 參數分析儀進行 C-V 量測的高階方法與技術。立即下載，探索半導體特性分析的有效解決方案。立即下載
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我們製作了一份實用的參考指南，帶領您瞭解所有必備知識，包括 DPT (雙脈衝測試) 的定義、用途，以及如何正確設定以獲得準確且具可重複性的結果。 內容包含：詳細的測試設定指南，展示建議的設備與探棒關鍵量測指標，如開通與關斷能量損耗 (Eon 和 Eoff) (Eon 與 Eoff) 以及逆向回復適用標準摘要專家提示，有助您避開常見誤
隨著產業不斷突破速度、頻寬與可靠性的界限，高速 I/O（HSIO）技術已成為高效能運算（HPC）、先進運算系統以及消費性裝置創新的基礎。本次課程將介紹 Tektronix 的 HSIO 解決方案組合，並強調如何協助工程師克服訊號完整性挑戰、簡化認證流程，加速產品上市。 從 PCIe、USB、DDR、MIPI、HDMI、Ethernet 等標準，Tektronix
