11/10 Tektronix 新品發表會，誠摯邀請您參加
線上新品發表會｜11 月 10 日（星期二）｜上午 10:00（PST）誠摯邀請您參加由 Tektronix 全球總部現場直播的最新創新產品發表會。搶先了解我們的最新技術突破與未來發展方向，第一時間掌握下一代測試與量測解決方案。立即報名，一起搶先看見未來。立即報名
線上新品發表會｜11 月 10 日（星期二）｜上午 10:00（PST）誠摯邀請您參加由 Tektronix 全球總部現場直播的最新創新產品發表會。搶先了解我們的最新技術突破與未來發展方向，第一時間掌握下一代測試與量測解決方案。立即報名，一起搶先看見未來。立即報名
低電阻量測是監測電阻隨時間變化的可靠方法，可有效發現因熱效應、材料疲勞或腐蝕所導致的性能劣化。當搭配大電流進行量測時，此技術廣泛應用於高功率電阻器、斷路器、開關、匯流排（Bus Bar）、電纜、連接器及其他電阻元件的性能評估。瞭解 Keithley Model 2460 SourceMeter® SMU 如何協助您簡化測試架構、降低程式開發工
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。下載本技術應用文章，深
