Tektronix 技術探索日｜高速介面訊號量測實戰Demo
如何準確量測並解析高速訊號行為，往往是Debug 與 Validation 的關鍵，而且當多高速介面共存時，訊號互相干擾，導致量測結果被雜訊影響，難以還原真實訊號。 本次活動將以 Tektronix 高效能示波器 全新 7 系列 DPO 進行高速訊號的現場示範，涵蓋 PCIe 4、USB4 及 MIPI D‑PHY / C‑PHY 的實際量測與分析，帶您以真實訊號深
如何準確量測並解析高速訊號行為，往往是Debug 與 Validation 的關鍵，而且當多高速介面共存時，訊號互相干擾，導致量測結果被雜訊影響，難以還原真實訊號。 本次活動將以 Tektronix 高效能示波器 全新 7 系列 DPO 進行高速訊號的現場示範，涵蓋 PCIe 4、USB4 及 MIPI D‑PHY / C‑PHY 的實際量測與分析，帶您以真實訊號深
驗證工程師、生產測試工程師和系統整合商經常會開發自動化測試設備 (ATE) 系統，用以測試電晶體、二極體、MOSFET 和 ASIC 等半導體裝置。自動化測試對於識別缺陷、驗證效能及確保品質非常重要，特別是在半導體、航太與國防等對可靠性要求極高的產業中更是如此。Tektronix MP5000 系列模組化精密測試系統提供了一個靈活且具擴
隨著 CPU、GPU、加速器與交換器的創新快速發展，超大規模資料中心的介面如今需要在運算與記憶體之間，以及系統連上網路時，提供更高速的資料傳輸。PCI Express（PCIe®）做為這些互連的主幹，也被用來建構像是 Compute Express Link（CXL™）與 Universal Chiplet Interconnect Express（UCIe™）等協定。 CXL 的資源共享能
