9/15【活動邀請】2026 太克創新論壇｜ 台北萬豪酒店
AI 浪潮正加速運算架構、半導體、高速介面與電源技術的快速演進，而每一次技術突破，都始於更精準、更可靠的量測。 深耕測試與量測領域 80 年，Tektronix 持續協助工程師迎接從高速訊號、次世代晶片到高效率電源設計的全新挑戰。結合 Tektronix、Keithley 與EA Elektro-Automatik 的完整技
AI 浪潮正加速運算架構、半導體、高速介面與電源技術的快速演進，而每一次技術突破，都始於更精準、更可靠的量測。 深耕測試與量測領域 80 年，Tektronix 持續協助工程師迎接從高速訊號、次世代晶片到高效率電源設計的全新挑戰。結合 Tektronix、Keithley 與EA Elektro-Automatik 的完整技
隨著資料傳輸速率持續提升，訊號完整性（Signal Integrity）所面臨的挑戰也快速增加。通道損耗（Channel Loss）與符際干擾（Inter-Symbol Interference, ISI）會壓縮眼圖開口，阻抗不連續則可能產生反射；甚至量測環境中的探棒、纜線和治具，也可能改變實際觀測點，使其偏離待測元件（Device）的接腳位置。Tektronix
隨著汽車產業邁向電動化，車用電子技術正快速演進。逐步擺脫化石燃料的趨勢正加速電動車（EV）與油電混合車（HEV）的普及，也使車輛系統架構及測試需求變得更加複雜。測試範圍已不再侷限於傳統車用電子設備，而是擴展至電池、電能轉換模組及電動傳動系統等高功率子系統，以及其與低電壓系統之間的互動。這些挑戰促使市場對先
