App Note：利用 Segment Arb 波形實現靈活的高速 I-V 量測
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。下載本技術應用文章，深
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。下載本技術應用文章，深
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