發布時間：2026-10-20 10:42:48 人氣：9
在某些半導體應用中，例如功率元件測試，或為了降低直流（DC）量測所造成的自熱效應，
通常需要進行高速 I-V 脈衝量測。
Segment Arb 功能可讓使用者在可靠度循環測試期間，
以交流（AC）訊號對元件進行應力測試；同時也能產生多階電平波形模式，
用於記憶體元件的程式化（Program）與抹除（Erase）操作。
下載本技術應用文章，深入了解 4225-PMU 的 Segment Arb 波形功能，
以及如何運用內建測試程式，執行高速且具時間控制能力的脈衝應用量測。
