發布時間：2026-10-13 13:08:18 人氣：9
當 AI 資料中心朝更高頻寬與更高功率密度發展，工程師面對的挑戰，
也從系統架構延伸至光源、封裝、電源模組與功率元件：CPO 的光電整合有哪些技術瓶頸？
CPO 多通道光源與 EML 短脈衝測試，各有哪些量測挑戰？
800 V HVDC 供電架構下，又該如何驗證電源完整性與 SiC／GaN 高速開關特性？
太克科技誠摯邀請您參加 11 月 5 日於新竹舉辦的「AI 資料中心技術日」。
本次活動邀集 ROHM、工研院、台灣大學及 Tektronix／Keithley 各領域之技術菁英與專家，
透過七場課程，串起光通訊與供電兩條技術主線，從架構發展深入具體量測方法，協助您掌握與研發工作密切相關的驗證重點。
本次活動，聚焦以下工程課題：
CPO 架構與光電整合：
探討 NPO／CPO 商用發展、矽光子與交換器 ASIC 異質封裝、外置光源及光纖陣列耦合，並比較矽晶光電與高速 VCSEL 在 AI 光網路中的應用。
CPO 光源量測與 EML 短脈衝測試：
聚焦 CPO 應用中的多通道連續波（CW）光源量測，以及 EML（電吸收調變雷射）的短脈衝測試需求，探討各自的量測挑戰與對應方案。
800 V HVDC 與電源完整性：
從電網到核心的供電架構切入，深入 PMIC 關鍵測項、漣波量測與探棒應用，釐清波德圖、PSRR 及 PDN 阻抗量測的用途。
SiC／GaN 靜態與動態驗證：
涵蓋 I–V、C–V、漏電流、崩潰電壓，以及雙脈衝測試（DPT）、動態 RDS(on) 量測與 Deskew 校正。
Keithley的AI 硬體量測應用：
從光電元件延伸至功耗效率、資料擷取、電阻分析與溫度管理，了解不同驗證需求的對應工具。
歡迎您把正在面對的量測問題帶到現場，與產學講者交流技術方向，並蒞臨Tektronix 展示攤位探索量測應用。
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活動日期｜2026/11/5（四）
活動時間｜09:00–16:20（09:00–09:30 報到）
活動地點｜新竹國賓大飯店 10 樓
活動洽詢：taiwan.mktg@tektronix.com ／ 02-2656-6617
