光學 SourceMeter® 儀器

適用於雷射二極體模組的弱電流電壓 (LIV) 測試

吉時利儀器可讓您輕鬆建置 LIV (弱電流電壓) 系統，以划算的方式測試電射二極體模組。

光纖校準光電二極體電錶 2502：高速類比輸出可在光纖校準階段進行 LIV 測試。
脈波電射二極體測試系統，可選的整合範圍 2520/KIT1：同步化測試系統提供輸出和量測功能，可進行脈衝和連續 LIV 測試。
TEC SourceMeter SMU，2510 和 2510-AT：藉由控制其熱電冷卻器，確保嚴密控制雷射二極體模組的溫度。

型號	通道	最大電流來源 量測範圍	最大電壓來源 量測範圍	量測解析度  (電流/電壓)	電源
2510	1	5A	10V		50 W
2510-AT	1	5A	10V		50 W
2502	2	20mA	100V	1fA	2 W
2520	1	5A	10V	700nA / 0.33mV	50 W

量測與分析
● 主動式溫度控制
    防止可能導致雷射二極體的主要輸出波長變更的溫度變化，因為可能會產生
    訊號重疊和串音問題。
● 50W TEC 控制器
    比起其他低功率解決方案，允許更高的測試速度和更寬的溫度設定點範圍。
● 完全數位 P-I-D 控制
    提供更大的溫度穩定性，而且只需簡單變更韌體，即可輕鬆升級。
● 自動調整熱控制迴路的容量 (2510-AT)
    免除需要使用反覆嘗試錯誤的實驗方法，以判定 P、I 和 D 係數的最佳組合。
● 寬溫度設定點範圍 (–50°C 到 +225°C) 和高設定點解析度 (±0.001°C)，
    以及穩定性 (±0.005°C)
    涵蓋冷卻光學組件和子組件的生產測試的大部分測試需求。
● 與各種溫度感應器輸入—熱阻器、RTD 和 IC 感應器相容
    使用最常用於廣泛雷射二極體模組的溫度感應器類型。
● 交流歐姆量測函數
    驗證 TEC 裝置的完整性。
● 熱回饋元素的 4 線開路/短路導線偵測
    消除量測值上的導線電阻錯誤，因而可減少假故障或裝置損壞的機率。

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