產品介紹

IWATSU CS-3000 曲線追蹤儀 3kv~1000A

半導體曲線追蹤儀 CURVE TRACER★ 取代 TEKTRONIX 370A★ 適用於各種半導體如 IGBT、MOSFET、電晶體、二極體等★ 測試最高峰值電壓：3000V★ 測試最大峰值電流：1000A★ 洩漏電流測試模式（Leakage mode）★ USB介面方便資料匯出（圖片與CSV檔）★ LAN埠支援遠端控制測試系統組成：1、 CS-3100/3200/3300 主機2、 CS-301/30

產品介紹

半導體曲線追蹤儀 CURVE TRACER

★ 取代 TEKTRONIX 370A
★ 適用於各種半導體如 IGBT、MOSFET、電晶體、二極體等
★ 測試最高峰值電壓：3000V
★ 測試最大峰值電流：1000A
★ 洩漏電流測試模式（Leakage mode）
★ USB介面方便資料匯出（圖片與CSV檔）
★ LAN埠支援遠端控制

測試系統組成：

1、 CS-3100/3200/3300 主機

2、 CS-301/302測試夾具

3、 CS-500 測試適配器

4、標準測試連接線材

5、 AUX DC POWER +/-40V,+/-100m A （包含在主機裡）

CS-3000 規格說明：

(1) 高電壓模式：標準 3000V (2500V at AC)（可訂製 10000V 測試儀器）

(2) 大電流模式 :1000A （脈衝）( 可訂製 8000A 測試儀器 )

(3) VG 控制極電壓 : +/-40V

(4) 整機基本精度： 2% 的讀數精度 +0.05%*DIV 調整精度

(5) 全系列支援測試洩漏電流模式，解析度為 1pA

(6) 可測試 IGBT 參數包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF等直流參數

(7) 脈衝寬度為 50-400uS, 並且支持 10uS 的調整解析度。

(8) 曲線掃描點數可由 20-1000 點可選擇，精簡模式可減少單次測試時間，極大提高測試效率。

(9) WAVEFORM 模式支援

日本IWATSU推出可掃描並測量半導體DC特性的曲線追蹤儀。新產品CS-3300擁有大電流模式下的脈衝電流高達1000A，高電壓模式的最大電壓為3000V。主要用於電晶體及二極體等各種半導體製品的測量。尤其適用於需要在大電流下測量特性的IGBT、MOSFET及SiC等功率半導體元件。

此次的產品在具備基本功能的同時，還擁有USB儲存埠以及經由LAN的遠端操作功能等，其集電極配備了“AC”、“全波整流”、“DC”及“洩漏電流”4種電壓施加模式。在洩漏電流模式下的解析度為1pA。此次新配備了普通曲線描繪器沒有的功能，主要有“TRACE”和“WAVE”顯示功能。TRACE功能可用圖示顯示目前正在運行的測量電路。對集電極施加的電壓施加模式等可一望便知。WAVE顯示功能可像數位示波器那樣，顯示集電極的電壓及電流波形。

測量模式有大電流模式和大電壓模式兩種。最大峰值電流為1000A的大電流模式時，最大峰值電壓為40V。另外，最大峰值電壓為3000V的高電壓模式時，最大峰值電流為75mA，最大峰值脈衝電流為150mA。新產品由CS-3300機身以及用於固定測量可啟動安全裝置作用的測試架構成。除CS-3300外，還備有其他兩款機型。大電流模式的最大測量電流400A的“CS-3200”，省去大電流模式和測試架的“CS-3100”。大電流模式以外的功能三款機型均相同。

CS-3000產品型錄下載

上一篇：IWATSU CS-8000晶體曲線分析儀5kv~2000A 下一篇：IWATSU CS-5000 曲線追蹤儀 5kv~1500A