【Tektronix 技術簡介】減少捕獲數據所需時間，顯著提升測試效率。

發布時間：2024-06-11 14:26:55 人氣：185

從示波器取得量測資料時，您有多種方法可供選擇。

而您獲得的資料的品質和準確性將取決於所採用的自動化方法，

這會影響量測的速度、精密度和準確度。

本技術簡介介紹了一種節省時間的方法，以及其如何顯著縮短量測時間，

同時保持精密度和準確度。立即利用 Controlled Run 簡化您的測試並提高您的工作效率！

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