系統 SourceMeter® 10 µsec 脈波產生器/精密電源/量測設備 (SMU) 儀器將高電流/高速脈波產生器的功能以及傳統 SMU 的測量功能和全部功能整合在一台儀器。達到 10 μs 的 10 A @ 10 V 脈波寬度和完整的 1 MS/s 數位化功能大幅提高應用的生產力，範圍從桌上型特性到高度自動化脈波 I-V 生產測試。Keithley 2601B-PULSE 10us
系統 SourceMeter® 10 µsec 脈波產生器/精密電源/量測設備 (SMU) 儀器將高電流/高速脈波產生器的功能以及傳統 SMU 的測量功能和全部功能整合在一台儀器。達到 10 μs 的 10 A @ 10 V 脈波寬度和完整的 1 MS/s 數位化功能大幅提高應用的生產力，範圍從桌上型特性到高度自動化脈波 I-V 生產測試。
無需手動脈波調整即可實現高脈波完整性2601B-PULSE 的控制迴路系統無需手動調整高達 3μH 的負載變化，因此可確保在任何電流量 (最高 10 安培) 下輸出 10μs 至 500μs 的脈波時，脈波均不會出現過沖和振盪。由於脈波上升時間 < 1.7μs，因此您可以正確分析受測裝置或電路的特性。 Ⓥ 輸出 10 A @ 10 V，脈衝寬度為 10μsⓋ 脈波上升時間 < 1.7μs，可以正確分析特性 Ⓥ 高完整性脈波輸出，無需在任何電流量下調節 |  |
 | 將快速脈波產生器和 SMU 的功能整合在一台儀器2601B-PULSE 為業界領先的 Keithley 2601B SMU 儀器提供出色的測量整合、同步性、速度和準確度，因而增加脈衝產生器功能。 Ⓥ 搭配1 MS/s 數位化的脈衝產生器 0.05% 基本量測準確度Ⓥ SMU 100 nA 低電流範圍搭配 100 fA 靈敏度 Ⓥ 後面板 BNC 連接可快速配置纜線 |
嵌入式指令檔和連接能力可產出無可匹敵的生產量Test Script Processor (TSP®) 技術嵌入在 SMU 儀器內部，可執行完整的測試程式以提供業界最佳效能。TSP-Link® 技術可讓您不需主機，即可對於進行高速、SMU 每個接腳並列測試最多擴充 32 個 TSP 連結節點。 Ⓥ 刪除進出 PC 的耗時匯流排通訊Ⓥ 進階資料處理和流程控制 Ⓥ 最多可連接至 32 個 TSP 連結節點 Ⓥ 在測試需求變更時輕鬆重新配置 |  |
型號 | 通道 | 最大電流來源/量測範圍 | 最大電壓來源/量測範圍 | 量測解析度 (電流/電壓) | 電源 | |
2601B-PULSE | 1 | 10A | 40V | 100 fA / 100 Nv | Pulser: 100 W |
ToF/LIDAR 應用解決方案的雷射二極體 (VCSEL) 生產測試2601B-PULSE 是雷射二極體垂直共振腔面射雷射 (VCSEL) LIV 生產測試的理想解決方案，具備高速和高準確度 10 μs 脈波產生器，以及對於 VCSEL、VCSEL 陣列和雷射二極體模組進行電流脈波來源和電壓電流監視的 SMU。SMU 提供最經濟實惠的 LIV 儀器，具有高系統同步化和輸送量。 Ⓥ 可程式化電流源，最高可達 10 A 和 10 µs 脈波寬度Ⓥ 100 nV 和 100 fA 的電壓和電流量測解析度 Ⓥ 內建的 TSP® 處理功能可減少 PC 儀器匯流排通訊 |  |
 | 已簡化 LED 的脈波/DC I/V 特性分析2601B-PULSE 具有獨特的電流脈波、直流電壓和電流功能，可實現 0.015% 基本測量精度的高速 LED 直流和脈波 IV 特性分析和生產測試。使用脈波測試 microLED、LED 或高亮度 LED (HBLED) 可將自行加熱降至最低，並減少對測量準確度的負面影響，而且消除造成受測裝置損壞的憂慮。 Ⓥ 可程式化電流源，最高可達 10 A 和 10 µs 脈波寬度Ⓥ 100 nV 和 100 fA 的電壓和電流量測解析度 Ⓥ 快速來源和測量資料收集的 1 Megasample/s 數位化儀 Ⓥ 內建的 TSP 處理功能可減少 PC 儀器匯流排通訊 |
晶圓半導體測試Keithley 2601B-PULSE 和其他系列 2600B 系統 SourceMeter® SMU 儀器結合機架式和堆疊式儀器的可擴充性和靈活性，以及主機型系統的整合和高輸送量，其中採用 TSP 和 TSP-Link 技術，可減少製造機體和測試成本。這些儀器通常用於雷射二極體、LED、電晶體等等的晶圓半導體測試。 Ⓥ 內建的 TSP 處理功能可減少 PC 儀器匯流排通訊Ⓥ 在與其他 Keithley TSP 儀器進行 500 ns 同步時，TSP-Link 最多可有 32 個儀器 |  |
