功率半導體和組件特性分析解決方案
2650 系列高功率 SourceMeter SMU 儀器是專門設計來分析高電壓/電流電子和功率半導體的特性並測試它們，例如二極體、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流-直流轉換器、電池、太陽能電池，以及其他高功率材料、元件、模組和子組件。 它們提供前所未有的功率、精確度、速度、彈性和易於使用，以改善研發、生產測試和可靠度環境中的生產力。 有兩個可用的儀器，提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈波電流功率。
型號 | 最大電流來源
量測範圍 | 最大電壓來源
量測範圍 | 量測解析度
(電流/電壓) | 電源 |
2651A | 50A | 40V | 100fA / 100nV | 2000 W |
2657A | 120mA | 3,000V | 1fA / 100nV | 180 W |
量測與分析
● 高彈性的四象限電壓和電流輸出/負載，搭配精確的電壓和電流電錶
使用 6 位半解析度提供同級產品中最好的效能。
● 輸出端或接收端 (2651A)，最高可達 2,000W 的脈衝功率 (±40V、±50A)，
或最高可達 200W 的直流功率 (±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)；
可輕鬆地連接兩個單元 (串列或並列方式) 來建立最高可達 ±100A 或 ±80V 的解決方案
支援功率半導體 HBLED、光學裝置、太陽能電池，以及 GaN、SiC 和其他複合材料
與裝置的特性分析/測試。應用包括半導體接合溫度特性分析；高速、高精確數位化；
電移研究；以及高電流、高功率裝置測試。
● 輸出端或接收端 (2657A) 最高可達 180W 的直流或脈衝功率
(±3000V@20mA、±1500V@120mA)
提供功率半導體裝置特性分析和測試所需的高電壓，包括 GaN、SiC 和其他
複合材料與裝置、3kV 的崩潰和洩漏測試，以及次毫秒暫態的特性分析。
● 內建的網頁瀏覽器式軟體
允許在全世界各地的任何電腦上透過任何瀏覽器進行遠端控制。
● 選擇數位化或整合量測模式
支援精確地表現暫態和穩態行為的特性分析，包括迅速地變更熱效應。
● TSP (測試指令檔處理) 技術
可讓系統輕鬆地與機型 2657A 和系列 2600B 機型整合。
● TSP-Link 通道擴充匯流排
可讓多個 2651A 和 2657A 與選取的系列 2600B SMU 儀器結合，
以構成最多可達 32 個通道的整合系統。
● 與機型 8010 高功率裝置測試治具和機型 8020 高功率介面面板相容
提供安全且輕鬆的連線，以在套裝零件或晶片位準上測試高功率裝置。
● 免費的測試指令檔建置器軟體工具
協助您建立、修改、除錯和儲存 TSP 測試指令檔。
● 可選配的 ACS 基本版半導體組件特性分析軟體
在開發、品質驗證或故障分析期間執行套裝零件特性分析時取得最大產能。
