【應用摘要下載】瞭解如何簡化功率 MOSFET I-V 特性分析
功率 MOSFET 裝置會根據其裝置結構、材料和運作原理而採用不同的技術。隨著這些特性發生變化,即有必要執行直流 I-V 特性分析。在 Tektronix,我們認為功率半導體裝置的特性分析程序必須安全、簡單且準確。追蹤輸出或傳輸特性應該變得簡單,並能在任何地點清晰地複製測試。在本應用摘要中,探索如何快速且輕鬆地測試兩個最關

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實現精密量測始於探棒頭。理想情況下,理想的探棒應具備以下關鍵屬性:· 連接簡單方便· 絕對訊號完整性· 零訊號源負載· 完全抗噪性然而,實際應用的限制往往會阻礙探棒達到理想狀態。再加上示波器量測應用範圍廣泛、需求多樣化,以及市場上琳瑯滿目的探棒選擇,選擇過程的繁瑣程度可見一斑。立

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