Tektronix 全新創新方案登場
09-30
今天，我們正式推出 Tektronix 產品陣容中的兩大全新解決方案。無論您正在分析複雜訊號，或驗證新一代 AI 電源系統，這些解決方案都能協助您更有信心、更有效率地完成測試工作。ELR 21000 動態測試系統ELR 21000 動態測試系統提供高速、回生式負載測試能力，專為新興的 800 V AI 資料中心電源架構而設計。模擬快速且貼近實際
今天，我們正式推出 Tektronix 產品陣容中的兩大全新解決方案。無論您正在分析複雜訊號，或驗證新一代 AI 電源系統，這些解決方案都能協助您更有信心、更有效率地完成測試工作。ELR 21000 動態測試系統ELR 21000 動態測試系統提供高速、回生式負載測試能力，專為新興的 800 V AI 資料中心電源架構而設計。模擬快速且貼近實際
當測試系統日益複雜，任何不正確的儀器設定、探棒選擇或量測流程，都可能造成判讀誤差、增加除錯時間，甚至影響產品開發進度。建立扎實的量測基礎，正是提升測試效率與研發品質的重要關鍵。數位量測學習中心將於 2026 年 10 至 11 月在台北、新竹推出年度最終系列課程，由 Tektronix 專業團隊帶領，從核心原理到實務操作，協
現代電源分配網路的需求日益提高，使工程師在進行電源完整性特性分析時面臨更多挑戰。適用於指定 Tektronix 示波器的電源分配網路（PDN）分析軟體，可協助設計工程師更深入了解電源軌行為與電壓調節器效能，透過：評估電源分配網路穩定性分析電源軌雜訊串接電源完整性與訊號完整性分析之間的落差體驗全新的自動化量測功能，
隨著模型複雜度提升與分散式工作負載對高輸送量及低延遲的需求日益增加，光學技術已成為 AI 資料中心成長不可或缺的核心。由於電性互連在頻寬與功耗方面已面臨瓶頸，進而推動了高速收發器、矽光子以及共同封裝光學 (CPO) 等新興技術的採用。透過在 GPU 與網路交換器之間實現更快速、更高效的資料傳輸，光學技術不僅能支援 A
通道熱載子（CHC）劣化是現代超大型積體電路（ULSI）中重要的可靠度議題。當載子在 MOSFET 通道中的強電場作用下獲得高動能時，便可能產生此現象。此效應亦稱為熱載子注入（Hot Carrier Injection，HCI），會影響 NMOS 與 PMOS 元件，並隨時間造成臨界電壓（VT）、次臨界斜率（Subthreshold Slope）、導通電流（ID,on）、關
