【技術文章】電源轉換設備的四個關鍵測試階段
若要在電源轉換設備中採用碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 等寬能隙材料,您將需要採取更嚴格的電氣測試策略。不論是材料適用性評估,或是組裝後效率測試,基準測試在整個開發過程中皆十分重要。在我們的部落格中,探索 Tektronix 的全方位測試解決方案,以滿足各種嚴苛的要求,並預測在四個測試階段中出現的挑戰,包括:材料級
若要在電源轉換設備中採用碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 等寬能隙材料,您將需要採取更嚴格的電氣測試策略。不論是材料適用性評估,或是組裝後效率測試,基準測試在整個開發過程中皆十分重要。在我們的部落格中,探索 Tektronix 的全方位測試解決方案,以滿足各種嚴苛的要求,並預測在四個測試階段中出現的挑戰,包括:材料級
半導體材料研究和裝置測試通常涉及確定樣品的電阻率和霍爾遷移率。電阻率取決於多種因素,包括材料摻雜、加工以及溫度和濕度等環境因素。在裝置中,電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。 半導體的電阻率通常使用四點探棒技術來確定。若使用四個探棒,將可消除由於探棒電阻、每個探棒下的擴展電阻以及每個金屬探棒與半導體
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智慧出行 馳向未來隨著汽車自駕、智慧、聯網、電動等趨勢快速發展,智慧汽車正從根本顛覆人們對未來交通與出行的想像與認知。這一系列新科技也帶來了更多對元件、汽車系統的需求,而在車聯網技術、續航力更佳的動力系統方面,更是為未來汽車帶來諸多的技術挑戰。技術創新 量測解密太克及吉時利專家們將於8-9月透過一系列共5