【應用指南下載】元件與半導體裝置的 C-V 測試

發布時間：2026-02-10 14:48:49 人氣：7

電容-電壓 (C-V) 測試是一種多功能且廣泛使用的半導體參數分析方法。

此方法能測定關鍵特性，例如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。

本 C-V 測試應用指南彙整了完整的應用說明，概述了使用 4200A-SCS 參數分析儀