【下載應用摘要】使用示波器對馬達控制系統進行 DQ0 分析
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使用示波器進行 DQ0 分析直接正交零 (dq0) 參數是磁場定向控制演算法中的重要變數，但通常存在於控制系統的深處。在設計最佳化和除錯期間，使這些參數可用於即時量測並將其值與其他量測值 (例如扭力輸出) 相關聯是有利的做法。Tektronix 開發了一種新方法，可量測 dq0 分量以及轉動感應器和無感應器系統的合成驅動向量
使用示波器進行 DQ0 分析直接正交零 (dq0) 參數是磁場定向控制演算法中的重要變數，但通常存在於控制系統的深處。在設計最佳化和除錯期間，使這些參數可用於即時量測並將其值與其他量測值 (例如扭力輸出) 相關聯是有利的做法。Tektronix 開發了一種新方法，可量測 dq0 分量以及轉動感應器和無感應器系統的合成驅動向量
若要在電源轉換設備中採用碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 等寬能隙材料，您將需要採取更嚴格的電氣測試策略。不論是材料適用性評估，或是組裝後效率測試，基準測試在整個開發過程中皆十分重要。在我們的部落格中，探索 Tektronix 的全方位測試解決方案，以滿足各種嚴苛的要求，並預測在四個測試階段中出現的挑戰，包括：材料級
半導體材料研究和裝置測試通常涉及確定樣品的電阻率和霍爾遷移率。電阻率取決於多種因素，包括材料摻雜、加工以及溫度和濕度等環境因素。在裝置中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。 半導體的電阻率通常使用四點探棒技術來確定。若使用四個探棒，將可消除由於探棒電阻、每個探棒下的擴展電阻以及每個金屬探棒與半導體
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汽車產業數位化轉型的步伐從未如此快速。高速資料通訊、電力電子和電池技術的進步正在推動更高的效能，進而生產出更安全、更高效的車輛，同時也為工程師帶來全新的挑戰。Tektronix 旨在為您提供以下領域的儀器解決方案：EV 動力系統EV 充電車載網路EMI/EMC探索我們的解決方案，以因應現今的汽車挑戰
